快捷导航

贵州兴黔信息科技申请用于RFID标签盘点的反射式缝隙天线专利,增强天线方向性和信号覆盖能力

2024-12-26 07:45| 发布者: admin| 查看: 55| 评论: 0
摘要: 金融界2024年12月25日消息,国家知识产权局信息显示,贵州兴黔信息科技有限公司申请一项名为“一种用于RFID标签盘点的反射式缝隙天线”的专利,公开号CN 119171067 A,申请日期为2024年11月。专利摘要显示,本发明公 ...

金融界2024年12月25日消息,国家知识产权局信息显示,贵州兴黔信息科技有限公司申请一项名为“一种用于RFID标签盘点的反射式缝隙天线”的专利,公开号CN 119171067 A,申请日期为2024年11月。

专利摘要显示,本发明公开了一种用于RFID标签盘点的反射式缝隙天线,涉及天线设计技术领域,本发明的缝隙天线设计方案通过相位控制算法和缝隙排列优化,极大增强天线的方向性和信号覆盖能力,通过调节相位差和缝隙间距,使天线在多个方向上的辐射强度得到增强,有效减少盲区,通过多路径信号处理算法和LMS最小均方误差算法,有效识别并抑制多路径干扰,天线能够自动调整反射电流的相位,过滤反射信号,从而保障复杂反射环境的信号质量,此外引入自适应阵列天线系统和波束成形技术,使天线能够根据RFID标签反馈的实时数据动态调整阵列单元的相位和幅度,从而形成定向波束,集中能量到特定方向,提高了特定区域内的识别精度。

本文源自金融界

鲜花

握手

雷人

路过

鸡蛋

关注我们:东远物联

抖音

微信咨询

咨询电话:

199-2833-9866

D-Think | 广州东远智能科技有限公司

地址:广州市白云区北太路1633号广州民营科技园科创中心2栋16楼

电话:+86 020-87227952 Email:iot@D-Think.cn

Copyright  ©2020  东远科技  粤ICP备2024254589号

免责申明:部分图文表述来自于网络,如有侵权请联系作者删除!